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簡(jiǎn)要描述:廣電計(jì)量汽車半導(dǎo)體檢測(cè)及認(rèn)證,零部件材料測(cè)試,可提供包括AEC-Q100、AEC-Q101、AEC-Q102、AEC-Q103、AEC-Q104、AEC-Q200規(guī)定的認(rèn)證項(xiàng)目。
產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
品牌 | 廣電計(jì)量 | 服務(wù)區(qū)域 | 全國(guó) |
---|---|---|---|
服務(wù)資質(zhì) | CMA/CNAS認(rèn)可 | 服務(wù)周期 | 常規(guī)3-5個(gè)工作日 |
證書報(bào)告 | 中英文電子/紙質(zhì)報(bào)告 |
服務(wù)內(nèi)容
試驗(yàn)類型 | 試驗(yàn)項(xiàng)目 | 標(biāo)準(zhǔn) |
AEC-Q100全套項(xiàng)目 | A組(加速環(huán)境應(yīng)力測(cè)試)、B組(加速壽命模擬測(cè)試)、C組(封裝組合完整性測(cè)試)、E組(電氣特性確認(rèn)測(cè)試)、F組(缺陷篩選測(cè)試)、G組(腔體封裝完整性測(cè)試) | AEC-Q100-001~012 |
AEC-Q001~005 | ||
JESD22-A系列 | ||
JESD22-B系列 | ||
MIL-STD883 |
服務(wù)范圍
汽車半導(dǎo)體檢測(cè)及認(rèn)證,零部件材料測(cè)試服務(wù)范圍:集成電路IC、半導(dǎo)體分立器件、光器件、MEMS器件、MCM模組、阻容感、晶振等無(wú)源電子元件
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
AEC - Q100:適用于各類集成電路芯片
AEC-Q101: 適用于BJT、MOSFET、IGBT、Diodes、Rectifier、Zeners、PIN等分立器件
AEC-Q102: 適用于LEDs、Optocoupler、Photodiodes等光器件
AEC-Q103: 適用于壓力傳感器、麥克風(fēng)等MEMS器件
AEC-Q104: 適用于各類多芯片組件MCM
AEC-Q200: 適用于各類電容器、電阻器、電感器、變壓器、阻容網(wǎng)絡(luò)、保險(xiǎn)絲等元件
檢測(cè)項(xiàng)目
試驗(yàn)類型 | 試驗(yàn)項(xiàng)目 |
參數(shù)測(cè)試類 | 功能驗(yàn)證、電性能參數(shù)、光參數(shù)、熱阻、物理尺寸、雪崩耐量、短路可靠性等 |
環(huán)境應(yīng)力試驗(yàn)類 | 高溫工作、高溫反偏、高溫柵偏壓、溫度循環(huán)、高溫存貯、低溫存貯、高壓蒸煮、HAST、高溫高濕反偏、高溫高濕工作、低溫工作、脈沖工作、間歇工作壽命、功率溫度循環(huán)、恒加速、振動(dòng)、沖擊、跌落、粗細(xì)檢漏、氣密性、鹽霧、凝露、硫化氫氣體腐蝕、混合氣體腐蝕等 |
工藝質(zhì)量評(píng)價(jià) | DPA、端子強(qiáng)度、耐溶劑試驗(yàn)、耐焊接熱、可焊性、剪切力、無(wú)鉛測(cè)試、可燃性、阻燃性、板彎曲、射束負(fù)載等 |
ESD | HBM、CDM、LU |
資質(zhì)認(rèn)可
全國(guó)超過(guò)60家主機(jī)廠的認(rèn)可
測(cè)試周期
汽車半導(dǎo)體檢測(cè)及認(rèn)證,零部件材料測(cè)試周期:3個(gè)月~6個(gè)月
服務(wù)背景
AEC-Q作為國(guó)際通用的車規(guī)級(jí)電子元器件測(cè)試規(guī)范,成為車用元器件質(zhì)量與可靠性的標(biāo)志。電子元器件AEC-Q認(rèn)證測(cè)試,對(duì)提升產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)力,并快速進(jìn)入汽車供應(yīng)鏈具有重要作用。
我們的優(yōu)勢(shì)
廣電計(jì)量是目前承接AEC-Q認(rèn)證服務(wù)最多的機(jī)構(gòu)之一,擁有豐富的項(xiàng)目經(jīng)驗(yàn)
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