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什么是失效分析?失效分析是一門發(fā)展中的新興學科,近年開始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機理的活動。在提高產(chǎn)品質(zhì)量,技術(shù)開發(fā)、改進,產(chǎn)品修復及仲裁失效事故等方面具有很強的實際意義。其方法分為有損分析,無損分析,物理分析,化學分析等。
為什么要進行失效分析?失效分析檢測目的:
1、明確潛在失效機理、查找失效根本原因、確定失效薄弱環(huán)節(jié),為改進產(chǎn)品設計,選材等提供依據(jù)。
2、通過失效機理分析還可以預測可靠性,起到技術(shù)反饋作用。
3、在提高產(chǎn)品質(zhì)量、技術(shù)開發(fā)、產(chǎn)品改進、產(chǎn)品修復及仲裁失效事故等方面具有很強的實際意義。
廣電計量失效分析檢測能能力
廣電計量集成電路測試與分析事業(yè)部是國內(nèi)的半導體質(zhì)量評價與可靠性提升方案技術(shù)服務提供方。廣電計量投入300多臺檢測分析設備,形成以博士、專家為核心的人才隊伍,打造8個專項實驗室及1個功能安全認證中心,為裝備制造、汽車、電力電子與新能源、5G通信、光電器件與傳感器、軌道交通與材料、晶圓廠等領域企業(yè)提供專業(yè)的失效分析、晶圓級制造工藝分析、元器件篩選、可靠性測試、工藝質(zhì)量評價、產(chǎn)品認證、壽命評估等服務,幫助企業(yè)提升電子產(chǎn)品質(zhì)量與可靠性。
專項實驗室及認證中心 | 重點能力 |
AEC-Q車規(guī)元器件 | AEC-Q100/101/102/103/104/200全項目認證 |
IGBT及第三代 | 功率器件逆向工程與案例分析 |
晶圓級工藝及材料 | 4nm及以上芯片制程晶圓級制造工藝分析 |
集成電路測試 | 集成電路工程化測試開發(fā) |
集成電路篩選 | 集成電路CP/FT/量產(chǎn)測試開發(fā)和導入 |
封裝組裝及DPA實驗室 | 電子元器件破壞性物理分析 |
電子電氣檢測與驗證實驗室 | 電子電氣功能、性能測試 |
服役評估實驗室 | 器件、零部件壽命評估 |
功能安全認證中心 | ISO26262功能安全ASFP培訓 |
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